涂層測厚儀影響因素問與答（二）

  3.如何系統(tǒng)校準(zhǔn)?

  校準(zhǔn)的方法、種類，這是新用戶經(jīng)常會遇到的問題。系統(tǒng)校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)還有兩點(diǎn)校準(zhǔn)其實(shí)都已經(jīng)在說明書上寫到了，用戶只需仔細(xì)閱讀就可以了。需要注意的是：在校準(zhǔn)鐵基時最好是多測量幾次以防止錯誤操作;系統(tǒng)校準(zhǔn)的樣片要按照從小到大的順序進(jìn)行。如果個別標(biāo)準(zhǔn)片丟失可以找與其數(shù)值相近的樣片代替。

  4.有時開機(jī)出現(xiàn)干擾是什么原因?

  開機(jī)后儀器屏幕出現(xiàn)測量狀態(tài)箭頭不能再次進(jìn)行測量，就說明儀器受到了干擾。主要有兩個原因:

  (1)開機(jī)時探頭離鐵基太近，因?yàn)殍F基磁場的影響而受到了干擾。

  (2)沒插好探頭或者探頭線有損傷。

  涂層和覆層測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必備手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中，對涂層覆層厚度測量有了明確的要求和規(guī)定。

  涂層厚度的測量方法主要有：楔切法涂層測量，光截法涂層測量，電解法涂層測量，厚度差測量法，稱重法涂層測量，χ射線熒光法涂層測量，β射線反向散射法涂層測量，電容法涂層測量，磁性測量法和渦流測量法測量厚度等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。隨著科學(xué)技術(shù)的日益進(jìn)步。

 

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